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En este m贸dulo se pretende mostrar la estructura y los principios b谩sicos de funcionamiento del Microscopio Electr贸nico de Barrido (MEB o SEM en su acr贸nimo en ingl茅s). Veremos qu茅 tipo de fen贸menos se producen dentro del microscopio al interaccionar el haz de electrones con la muestra y de qu茅 manera se aprovechan las diferentes se帽ales generadas para proporcionar, con gran resoluci贸n, informaci贸n morfol贸gica, topogr谩fica y de composici贸n, siendo muy 煤til para una gran variedad de aplicaciones cient铆ficas y industriales.

En este m贸dulo se presenta la configuraci贸n de un microscopio electr贸nico de transmisi贸n (TEM). Mientras en un microscopio SEM, las im谩genes se forman con electrones secundarios arrancados de la muestra, o con electrones del haz primario que han sido retrodispersados al interaccionar fuertemente con los 谩tomos del material, en un TEM las im谩genes se forman con los electrones que han atravesado la muestra. Veremos los modos m谩s fundamentales de operaci贸n para obtener una imagen ampliada de la muestra, incluso con resoluci贸n at贸mica, o para obtener diagramas de difracci贸n de electrones que contienen informaci贸n sobre la estructura cristalina de los materiales observados.

En este m贸dulo presentamos el microscopio electr贸nico de transmisi贸n y los modos de operaci贸n b谩sicos con haz paralelo para obtener im谩genes y patrones de difracci贸n de electrones. En este tercer m贸dulo, se presenta la posibilidad de trabajar con un haz convergente y de peque帽o tama帽o, que adem谩s barre la superficie de la muestra por la acci贸n de bobinas electromagn茅ticas deflectoras, dando lugar al llamado modo de barrido 鈥� transmisi贸n (STEM). La se帽al de inter茅s en este caso, proviene de la interacci贸n quasi-el谩stica de los electrones con los n煤cleos de los 谩tomos de la muestra para obtener im谩genes cuyo contraste depende del n煤mero at贸mico de los mismos, o bien de la interacci贸n inel谩stica con la nube electr贸nica de los 谩tomos de la muestra, para medir la p茅rdida de energ铆a que ha sufrido el haz de electrones primario y extraer informaci贸n sobre la composici贸n del material y el estado de oxidaci贸n de los elementos que lo componen.

En este m贸dulo analizamos el Microscopio de Fuerzas At贸micas que signific贸 un hito a principios de los 80 para la evoluci贸n y consolidaci贸n de la nanotecnolog铆a ya que permite la medida de todo tipo de nanoestructuras de una forma r谩pida, sencilla y no destructiva. Durante el curso veremos su esquema y funcionamiento y podremos comprobar su gran potencialidad y alta versatilidad. El objetivo principal del curso es dar las herramientas b谩sicas para la utilizaci贸n pr谩ctica de un AFM de manera autosuficiente.

En este m贸dulo hablamos del gran avance que la Microscop铆a 贸ptica ha experimentado en los 煤ltimos, consolidado con los nuevos equipos de Microscop铆a 脫ptica Avanzada que ya son capaces de trabajar en la nanoescala. Uno de estos equipos es el microscopio Confocal, el cual ser谩 presentado y explicado durante el curso para saber su esquema, composici贸n, funcionamiento y posibles opciones de uso. La microscop铆a confocal permite la medici贸n topogr谩fica de superficies con una amplia gama de texturas (desde superficies muy rugosas a superficies muy lisas) mediante el escaneo en pasos de la muestra verticalmente.